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    光纖測試之如何消除被測光纖的盲區

    時間:2012-11-26來源:輝鵬網絡 作者:編輯 點擊:
    內容提要: 光纖測試之如何消除被測光纖的盲區。
      

      (1)用引導光纖消除盲區

      產生盲區的主要原因是反射事件,其中OTDR前面板活動連接器產生的反射對OTDR測量的影響最大。為了更好地對光纖始端進行測量,通常用接入引導光纖的方法來消除盲區。

      使用引導光纖后,可以將前面板活動連接器產生的盲區控制在引導光纖內。這樣就可以測出被測光纖的最前端。只有被測光纖與引導光纖的連接處不再產生反射,引導光纖的接入才有意義,通常采用熔接的方法來實現,如圖1所示。如果將引導光纖用活動連接器連至被測光纖,那么活動連接器會產生另一盲區。同時,還要求引導光纖的長度必須大于OTDR前面板的衰減盲區。

    用引導光纖消除盲區示意圖
    圖1   用引導光纖消除盲區示意圖

      有時為了檢查第一個活動連接器是否存在問題,通常將引導光纖與被測光纖進行活動連接,如圖2所示。

    用引導光纖測量第一個活動連接器示意圖
    圖2  用引導光纖測量第一個活動連接器示意圖

      (2)光屏蔽方式消除盲區

      為了對小功率的背向散射信號進行有效測量,要求OTDR的接收器對背向散射電平具有非常高的靈敏度。當反射峰過大時,就會使接收器進入深度飽和狀態。盲區的大小取決于接收器由深度飽和狀態恢復到線性背向散射電平所需的過渡時間。只要將接收器在反射峰期間關閉,接收器就不會進入飽和狀態,反射峰過后再打開接收器,但這還存在一個接收器由截止到放大的過渡時間,不過這一時間較短。


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